RD800四探针面电阻测量仪介绍

技术参数 Technical Parameter:

1．系统简介 RD-800 四探针面电阻测量仪是一款采用四探针测量原理的表面方块电阻测量仪。主 要用于测量导电膜层的方块电阻，如柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等 基底上导电膜（ITO 膜）或纳米涂层等半导体材料。 RD-800 可直接安装于生产线上，测量探头内置电机，可以通过指令控制探针与被测 膜层的距离。当被测物停留在 RD-800 下时，通过指令可以控制 RD-800 测量探针与被测 膜层接触，进而测量出膜层的方块电阻。

2系统特点
1． 高精度测量；
2． 高精度恒流电流加载测量；
3． 探针探头可按照指令移动，实现在线自动测量；
4． 多个测量量程；
5． 量程范围可根据被测膜层自动调整；
6． 探头探针可更换。

3.性能指标

序号	参数名称	技术指标
1	测量方式	四探针测量
2	测量量程	0.05～2000 Ohm/sq
3	测量最大允许误差	不含探头：0.2% 含探头：3 %
4	温度漂移	50 pp/K @ 0～45℃
5	通讯接口	RS485
6	测量速度	6s（含探针探头移动）
7	工作环境	温度：0～50℃ ;相对湿度：≤80%
8	存储环境	温度：-10～+65℃ ;相对湿度：≤80%
9	供电电源	DC24V
10	额定功率	40W
11	探针直径	Ø 0.75mm
12	探针间距	2mm
13	探针压力	200g